物品

疲労試験装置 1式

公告日:2026/05/12 締切:2026/06/02
予定価格
非公表
締切日
6月2日
公告日
5月12日
2026年
基本情報
所在地
東京都
入札方式
物品
データソース
官公需情報ポータルサイト
取得日時
2026-05-13 09:00
入札への参加・仕様書の取得は発注機関の公式サイトで行えます 元サイトで詳細を見る →
国立大学法人東京工業大学 の他の案件
草津白根山・湯釜火口監視カメラシステムの更新作業 1式
物品 東京都
非公表
締切 07/06
コンパクトIQ復調・エリプソメトリシステム 一式
物品 東京都
非公表
締切 07/08
東京科学大学緑が丘ハウス管理業務 一式
役務 東京都
非公表
締切 07/08
65nm CMOSプロセスLSI 1式
物品 東京都
非公表
締切 07/10
ゲート絶縁膜用原子層堆積装置 一式
物品 東京都
非公表
締切 07/13
有料プランでさらに便利に
この案件を保存 締切リマインダー 落札情報を見る 仕様書PDF取得
プランを見る →
← 2026.05.12_Miltenyi Biotec B.V…
主変電所定期点検 →