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官報政府調達 / 入札公告
A 走査型電子顕微鏡(FE‑SEM)EBSDシ ステム 一式 B 小型二軸コニカル押出・ロール成形一体 型装置 一式 C 原子層堆積システム 一式 D チップ間インターフェースビットエラー レート測定器 一式
公告日:2026/07/01
締切:2026/08/20
予定価格
非公表
締切日
8月20日
あと32日
公告日
7月1日
2026年
基本情報
発注機関
国立大学法人東京大学
所在地
東京都
入札方式
官報政府調達 / 入札公告
データソース
官報(政府調達)
取得日時
2026-07-18 16:26
出典
官報(政府調達)
/
発注機関:国立大学法人東京大学
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